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Resonant emission of secondary electrons

Halbritter, J.



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seit 29.07.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1983
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240018208
Erscheinungsvermerk 1983 Conf.on Scanning Electron Microscopy, Dearborn, Mich., April 17-22, 1983 Centre d'Etudes Nucleaires, Saclay, F, 8.Februar 1983 Scanning Electron Microscopy, 2(1983)
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