Resonant emission of secondary electrons
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Kernphysik (IK) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1983 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240018208 |
| Erscheinungsvermerk | 1983 Conf.on Scanning Electron Microscopy, Dearborn, Mich., April 17-22, 1983 Centre d'Etudes Nucleaires, Saclay, F, 8.Februar 1983 Scanning Electron Microscopy, 2(1983) |