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Application of the channeling and X-ray diffraction techniques for defect analyses

Kaufmann, R.; Linker, G.; Meyer, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1984
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240018357
Erscheinungsvermerk Proc.of the 6th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis, Tempe, Ariz., May 23-27, 1983 Nuclear Instruments and Methods, 218(1983)
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