Stripping voltammetric assay of trace technetium with a TOPO coated glassy carbon electrode

Torres Llosa, J. M.; Ruf, H.; Schorb, K.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1988
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240024947
Erscheinungsvermerk	Symp.on Accuracy in Trace Analysis - Accomplishments, Goals, Challenges, Gaithersburg, Md., September 28 - October 1, 1987 Journal of Research of the National Bureau of Standards, 93(1988)