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Stripping voltammetric assay of trace technetium with a TOPO coated glassy carbon electrode

Torres Llosa, J. M.; Ruf, H.; Schorb, K.; Ache, H. J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1988
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240024947
Erscheinungsvermerk Symp.on Accuracy in Trace Analysis - Accomplishments, Goals, Challenges, Gaithersburg, Md., September 28 - October 1, 1987 Journal of Research of the National Bureau of Standards, 93(1988)
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