KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

The determination of lattice parameters and strains in stressed thin films using X-ray diffraction: extensions

Haase, E.L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240024966
HGF-Programm 13.01.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Hasek, J. [Hrsg.] X-Ray and Neutron Structure Analysis in Materials Science, Proc., Karlovy Vary, CS, October 5-9, 1987 New York [u.a.] : Plenum Publ. 1989
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page