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Quantitative depth profiles of lithium-corroded vanadium and vanadium alloys by Auger electron spectroscopy

Nold, E.; Adelhelm, Ch.; Borgstedt, H. U.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1988
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240025274
Erscheinungsvermerk Proc.of the European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis, Stuttgart, October 19-23, 1987 Surface and Interface Analysis, 12(1988)
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