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Frequency dependence and sample variation of dielectric properties in a commercial low loss alumina grade

Heidinger, R.; Koeniger, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1987
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240025397
Erscheinungsvermerk Temkin, R.J. [Hrsg.] 12th Annual Internat.Conf.on Infrared and Millimeter Waves, Lake Buena Vista, Fla., December 14-18, 1987 Conference Digest New York, N.Y. : IEEE, 1987. -
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