Bildanalytische Qualitaetskontrolle in der Mikrofertigung. Ein vollautomatisches, hochflexibles und schnelles Strukturmesssystem
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT) Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240028344 |
| HGF-Programm | 16.04.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Burkhardt, H. [Hrsg.] Mustererkennung 1989 : 11.DAGM-Symp., Hamburg, Oktober 1989 Proc. Berlin [u.a.] : Springer, 1989 |