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The breakdow mechanism of the pseudospark discharge

Hartmann, W.; Almen, O.; Benker, W.; Christiansen, J.; Frank, K.; Rath, W.; Reichle, R.; Mittag, K.; Davies, A.J.; Nissen, W.; Choi, P.; Kaufmann, Y.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240028413
HGF-Programm 50.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Workshop on Transient Hollow Cathode Discharge Phenomena, Paris, F, September 11-12, 1989 Proc. Paris : Universitaet Paris, ca.1991
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