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Secondary neutral mass spectrometry as a new tool for depth resolved analysis of particulate matter

Goschnick, J.; Lipp, M.; Schuricht, J.; Schweiker, A.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240031240
HGF-Programm 22.02.04; LK 01
Erscheinungsvermerk Proc.of the 1991 European Aerosol Conf., Karlsruhe, September 16-20, 1991 Journal of Aerosol Science, 22(1991) Suppl.1
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