Depth profiles within glass samples from anodic bonding experiments with copper using SNMS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Radiochemie (IRCH) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240032317 |
| HGF-Programm | 41.03.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 7th Working Conf.on Applied Surface Analysis, Juelich, June 22-25, 1992 Fresenius' Journal of Analytical Chemistry, 346(1993) |