Depth-profiling of organic layers on microparticles with SNMS

Bentz, J. W. G.; Ewinger, H. P.; Goschnick, J.; Kannen, G.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1993
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240032319
HGF-Programm	22.02.05 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	7th Working Conf.on Applied Surface Analysis, Juelich, June 22-25, 1992 Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 346(1993)