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Elektronenmikroskopischer Nachweis von Stoechiometrieschwankungen in Mikrobereichen von 123-, La₂₋ₓSrₓCuO₄ und BI-HTSL-Kristallen

Freitag, B.; Maas, A.; Braunisch, W.; Schnelle, W.; Wohlleben, D.; Wolf, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1993
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 240033370
HGF-Programm 34.01.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Supraleitung und Tieftemperaturtechnik : Statusseminar, Potsdam, 21.-23.September 1992 Duesseldorf : VDI-Verl., 1993
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