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Kalibrierung der Tiefenprofile von Mikropartikeln aus Messungen mit plasmagestützter Sekundärmassenspektrometrie. Calibration of depth profiles of microparticles measured with plasma-based secondary neutral mass spectrometry

Goschnick, J.; Schuricht, J.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 240033722
HGF-Programm 22.01.08; LK 01
Erscheinungsvermerk 7.Tagung Festkörperanalytik der GdCh, Chemnitz, 22.-25.Juni 1993 Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 349(1994)
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