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ISFETs with sputtered sodium alumino-silicate glass membranes

Schlesinger, R.; Bruns, M.; Becht, R.; Dosenbach, S.; Hoffmann, W.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240037245
HGF-Programm 41.03.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Anakon '95, Schliersee, 24.-26.April 1995 Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 354(1996)
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