ISFETs with sputtered sodium alumino-silicate glass membranes

Schlesinger, R.; Bruns, M.; Becht, R.; Dosenbach, S.; Hoffmann, W.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1996
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240037245
HGF-Programm	41.03.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Anakon '95, Schliersee, 24.-26.April 1995 Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 354(1996)