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Determination of the contributions of pollution sources to aerosol material by SIMS cluster analysis

Goschnick, J.; Häcker, J.; Ache, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240037990
HGF-Programm 22.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Benninghoven, A. [Hrsg.] Secondary Ion Mass Spectrometry : SIMS X ; Proc.of the 10th Internat.Conf., Münster, October 1-6, 1995 Chichester : John Wiley and Sons, 1997
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