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Zweidimensionale Vermessung von Mikrostrukturen mit bildanalytischen Methoden

Guth, H.; Hellmann, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 240038225
HGF-Programm 41.05.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 4.Zwickauer Automatisierungs-Forum, Zwickau, 26.-27.Oktober 1995 Tagungsband Hochschule für Technik und Wirtschaft Zwickau (FH)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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