Synchrotron radiation analysis of microstructures

Mölders, N.; Moser, H. O.; Menz, W.; Schilling, P. J.; Saile, V.

Seitenaufrufe: 14
seit 13.06.2019

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1996
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240038453
HGF-Programm	41.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	High Aspect Ratio Microstructure Technology (HARMST '95), Karlsruhe, July 3-5, 1995 Microsystem Technologies, 2(1996)