Sekundärmassenspektrometrie zur Erfassung von Tiefenverteilungen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Radiochemie (IRCH) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1995 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240038600 |
| HGF-Programm | 22.01.08 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Praktische Oberflächenanalytik : Beiträge zu einem Workshop, Forschungszentrum Karlsruhe, 9.-11.November 1994 Wissenschaftliche Berichte, FZKA-5691 (Dezember 95) Beitrag 2 |