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Tiefenprofilmessungen an Glas nach anodischem Bonden mit Kupfer

Schuricht, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 240038607
HGF-Programm 22.01.08 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Praktische Oberflächenanalytik : Beiträge zu einem Workshop, Forschungszentrum Karlsruhe, 9.-11.November 1994 Wissenschaftliche Berichte, FZKA-5691 (Dezember 95) Beitrag 11
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