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XPS, SIMS and SNMS applied to a combined analysis of aerosol particles from a region of considerable air pollution in the upper Rhine valley

Faude, F.; Goschnick, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240039445
HGF-Programm 22.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 9.Arbeitstagung 'Angewandte Oberflächenanalytik', Aachen, 24.-27.Juni 1996 Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 358(1997)
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