XPS, SIMS and SNMS applied to a combined analysis of aerosol particles from a region of considerable air pollution in the upper Rhine valley
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240039445 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 9.Arbeitstagung 'Angewandte Oberflächenanalytik', Aachen, 24.-27.Juni 1996 Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 358(1997) |