Application of the SECM to the analysis of microstructured polybithiophene

Thies, A.; Morgenstern, T.; Michaelis, A.; Schultze, J. W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1996
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240039628
HGF-Programm	90 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	49th Annual Meeting of the Internat.Society of Electrochemistry, Xiamen, China, August 28 - September 1, 1995 Extended Abstracts Vol. 1