Studies of copper patina by photothermal beam deflection

Janssen, S.; Hofmann, G. R.; Faubel, W.; Ache, H. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1998
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240041082
HGF-Programm	21.15.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Anakon '97, Konstanz, 6.-8.April 1997 Book of Abstracts S.122 Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 360(1998) S.788-91