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Einsatz der Resistographen M300 und M500 bei harten Hölzern

Kappel, R.; Mattheck, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 240041355
HGF-Programm 21.12.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 3.VTA-Spezialseminar 'Messen und Beurteilen am Baum', Karlsruhe, April 23-24, 1997 Tagungsband
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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