Depth-profiling of double layers for catalytic tuning of gas-sensing devices
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240042130 |
| HGF-Programm | 41.05.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Olefjord, I. [Hrsg.] ECASIA 97 : 7th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis, Göteborg, S, June 16-20, 1997 Chichester [u.a.] : John Wiley and Sons, 1997 |