KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Temperature dependent measurement of surface diffusion constants by application of the scanning force microscope

Göbel, H.; Blanckenhagen, P.von; Schommers, W.; Ehrlich, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240042459
HGF-Programm 52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Michel, B. [Hrsg.] Proc.of the Internat.Conf.and Exhibition Micro Materials : Micro Mat '97, Berlin, April 16-18, 1997 Dresden : dpp Goldenbogen, 1997
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page