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Aufnahme und Auswertung von Zugversuchen an gekerbten Rundproben bei tiefen Temperaturen mit einem CCD-Kamerasystem

Aktaa, J.; Nold, S.; Walter, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 240042952
HGF-Programm 31.02.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Werkstoffprüfung : 1997 ; Tagung, Bad Nauheim, 4.-5.Dezember 1997 Berlin : Deutscher Verband f.Materialforschung und -prüfung e.V., 1997
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