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Discrete shape analysis of the energy distribution to discriminate non-atomic signal contributions in depth profiling with SNMS

Goschnick, J.; Natzeck, C.; Sommer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240044452
HGF-Programm 22.03.03 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Asian and Pacific Surface and Interface Analysis Conf. (APSIA), Singapore, SGP, November 30 - December 4, 1998 Surface and Interface Analysis, 28(1999)
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