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Interface investigations by infrared spectroscopy and X-ray reflectivity measurements of cubic boron nitride thin films

Ulrich, S.; Donner, W.; Dosch, H.; Ehrhardt, H.; Schwan, J.



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seit 02.10.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240044570
HGF-Programm 42 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Proc.of the 6th Internat.Conf.on Plasma Surface Engineering, Garmisch-Partenkirchen, September 14-18, 1998 Surface and Coatings Technology, 116-119(1999)
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