Interface investigations by infrared spectroscopy and X-ray reflectivity measurements of cubic boron nitride thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240044570 |
| HGF-Programm | 42 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Proc.of the 6th Internat.Conf.on Plasma Surface Engineering, Garmisch-Partenkirchen, September 14-18, 1998 Surface and Coatings Technology, 116-119(1999) |