Tritium depth profiling in carbon by accelerator mass spectrometry

Friedrich, M.; Pilz, W.; Sun, G.; Behrisch, R.; Garcia-Rosales, C.; Bekris, N.; Penzhorn, R. D.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240046065
HGF-Programm	31.07.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	Proc.of the 14th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis (IBA-14), Dresden, July 26-30, 1999 Nuclear Instruments and Methods B, 161-163(2000)