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Characterization of artificially produced copper and bronze patina by XPS

Schlesinger, R.; Klewe-Nebenius, H.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240046089
HGF-Programm 21.15.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 8th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '99), Sevilla, E, October 4-8, 1999 Surface and Interface Analysis, 30(2000)
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