Characterization of artificially produced copper and bronze patina by XPS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240046089 |
| HGF-Programm | 21.15.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 8th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA '99), Sevilla, E, October 4-8, 1999 Surface and Interface Analysis, 30(2000) |