Non-destructive characterisation of HTSC wafer homogeneity by mm-wave surface resistance measurements
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240046713 |
| HGF-Programm | 34.01.04 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | Applied Superconductivity 1999 : Proc.of the 4th European Conf., Sitges, E, September 14-17, 1999 Bristol [u.a.] : IOP Publ., 2000 (Institute of Physics Conference Series ; 167) |