Comparative study of harmonic oscillations of tunneling current on partially oxidized Si(100) and Si(111) surfaces by scanning tunneling microscopy and spectroscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2001 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240046874 |
| HGF-Programm | 42.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | European Conf.on Surface Science (ECOSS-18), Wien, A, September 21-24, 1999 Surface Science, 454-456(2000) DOI:10.1016/S0039-6028(00)00222-3 |