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Weiterentwicklung von Spektrometersystemen für den NIR-Bereich

Kühner, T.; Krippner, P.; Oppermann, S.; Last, A.; Mohr, J.; Wicht, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Prozessinstrumentierung und Elektronik (HPE)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 240047313
HGF-Programm 41.07.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 4.Statuskolloquium des Programms Mikrosystemtechnik, Karlsruhe, 30.-31.März 2000 Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6423 (März 2000)
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