KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Materialprüfung für verschleißbeanspruchte Mikrobauteile

Schneider, J.; Dieter, S.; Fett, T.; Leiste, H.; Pyzalla, A.; Reimers, W.; Rohde, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 240048690
HGF-Programm 41.01.03; LK 01
Erscheinungsvermerk Material- und Verfahrensentwicklung für mikrotechnische Hochleistungsbauteile, Statuskolloquium, Forschungszentrum Karlsruhe, 25.Oktober 2000 Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6528 (Oktober 2000)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page