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Improved extraction of planar segments for scanned surfaces

Sacchi, R.; Poliakoff, J.F.; Thomas, P.D.; Häfele, K.H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240048723
HGF-Programm 21.15.04; LK 01
Erscheinungsvermerk Banissi, E. [Hrsg.] Proc.of the IEEE Internat.Conf.on Information Visualisation, London, GB, July 19-21, 2000 Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Soc., 2000
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