Measurement of local electric fields in high power ion diodes with resonantly excited probe beam atoms

An, W.; Knyazev, B.; Bluhm, H.; Buth, L.; Hoppe, P.; Massier, H.; Meisel, G.; Singer, J.; Stoltz, O.

Seitenaufrufe: 24
seit 13.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2001
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240048935
HGF-Programm	11.03.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk	13th Internat.Conf.on High-Power Particle Beams (Beams 2000), Nagaoka, J, June 25-30, 2000 Proc.on CD-ROM