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Die Untersuchung mikrostruktureller Änderungen in bestrahlten Stählen mittels Transmissions- und Rasterelektronenmikroskopie

Ehrlich, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 240049004
HGF-Programm 32.22.04; LK 01
Erscheinungsvermerk Bauteilprüfung im Mikro- und Nanobereich : 19.Tagung des DVM Arbeitskreises MNP, Mülheim, 28.-29.November 2000 Berlin : Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung e.V., 2000 (DVM-Berichte ; 519)
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