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Low power test facility for characterization of advanced mode converter systems

Arnold, A.; Dammertz, G.; Thumm, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240049367
HGF-Programm 31.20.10; LK 01
Erscheinungsvermerk MIOP : The German Wireless Week, Microwaves and Optronics ; 11th Conf.and Exhibition on Microwaves, Radio Communication and Electromagnetic Compatibility, Stuttgart, May 8-10, 2001 Hagenburg : NETWORK-OSE GmbH, 2001
URLs Abstract (PDF)
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