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Optical modeling of the analytical chamber of an IR gas sensor

Sieber, I.; Eggert, H.; Suphan, K.H.; Nüssen, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240049424
HGF-Programm 41.03.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Courtois, B. [Hrsg.] Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS 2001, Cannes, F, April 25-27, 2001 Bellingham, Wash. : SPIE, 2001 (SPIE Proceedings Series ; 4408)
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