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Investigation of the recrystallisation kinetics of Ni and NiCr substrate tapes for coated conductors by means of DSC, X-ray diffraction and EBSD

Goldacker, W.; Nast, R.; Schauer, W.; Obst, B.; Deboer, B.; Reger, N.; Holzapfel, B. ORCID iD icon


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240049781
HGF-Programm 33.01.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 2001 Internat.Workshop on Superconductivity (The 5th Joint ISTEC/MRS Workshop), Honolulu, Hawaii, June 24-27, 2001 Extended Abstracts
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