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Testing bulk HTS modules for resistive superconducting fault current limiters

Noe, M.; Jüngst, K.P.; Werfel, F.N.; Elschner, S.; Bock, J.; Breuer, F.; Kreutz, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240051801
HGF-Programm 33.01.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Applied Superconductivity Conf.(ASC), Houston, Tex., August 4-9, 2002 IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 13(2003) DOI:10.1109/TASC.2003.812953
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