KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Testing bulk HTS modules for resistive superconducting fault current limiters

Noe, M. ORCID iD icon; Jüngst, K. P.; Werfel, F. N.; Elschner, S.; Bock, J.; Breuer, F.; Kreutz, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240051801
HGF-Programm 33.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Applied Superconductivity Conf.(ASC), Houston, Tex., August 4-9, 2002 IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 13(2003) DOI:10.1109/TASC.2003.812953
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page