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Phonon dispersion relation measurements on zircon, ZrSiO₄ : a comparison between the time-of-flight and triple-axis spectrometer techniques

Chaplot, S.L.; Pintschovius, L.; Mittal, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240052660
HGF-Programm 52.01.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Proc.of the 44th DAE Solid State Physics Symp., Mumbai, IND, December 26-30, 2001 Solid State Physics (India), 44(2001)
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