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Fabrication conditions and detecting properties of a metal oxide gradient microarray based on nanocrystalline tin dioxide

Goschnick, J.; Betsarkis, K.; Schneider, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240055701
HGF-Programm 41.05.01; LK 01
Erscheinungsvermerk MICRO.tec 2003 : Applications - Trends - Visions ; Proc.of the 2nd VDE World Microtechnologies Congress, München, October 13-15, 2003 Berlin [u.a.] : VDE Verl.GmbH, 2003 Incl.CD-ROM
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