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Adjoint sensitivity analysis of reliability models with application to IFMIF

Ionescu-Bujor, M.; Cacuci, D.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Reaktorsicherheit (IRS_CN)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240056461
HGF-Programm 31.02.03; LK 01
Erscheinungsvermerk ANS/ENS 2003 Winter Meeting, New Orleans, La., November 16-20, 2003 Transactions of the American Nuclear Society, 89(2003)
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