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A small and compact AMS facility for tritium depth profiling

Friedrich, M.; Pilz, W.; Bekris, N.; Glugla, M.; Kiisk, M.; Liechtenstein, V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Hauptabteilung Versuchstechnik (HVT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240058895
HGF-Programm 31.30.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Proc. of the 9. Int. Conf. on Accelerator Mass Spectrometry, Nagoya, J, September 9-13, 2002 Nuclear Instruments and Methods B, 223-224(2004) DOI:10.1016/j.nimb.2004.04.008
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