The characterization of nanostructured copper-doped tin oxide films for gas sensor microarrays

Sysoev, V.; Kisin, V.; Frietsch, M.; Kiselev, I.; Habicht, W.; Bruns, M.; Goschnick, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2004
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240059131
HGF-Programm	41.05.01 (POF I, LK 01) MOX-Sensoren
Erscheinungsvermerk	IEEE Sensors 2004, Wien, A, October 24-27, 2004