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The characterization of nanostructured copper-doped tin oxide films for gas sensor microarrays

Sysoev, V.; Kisin, V.; Frietsch, M.; Kiselev, I.; Habicht, W.; Bruns, M.; Goschnick, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240059131
HGF-Programm 41.05.01 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk IEEE Sensors 2004, Wien, A, October 24-27, 2004
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