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In-situ study of nanocrystalline Pt-KOH (1M) interface using X-ray diffraction method

Viswanath, R.N.; Weissmüller, J.; Würschum, R.; Gleiter, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240059254
HGF-Programm 42.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Chakraborti, N. [Hrsg.] ICAMMP-2002 : Proc.of the Internat.Conf.on Advances in Materials and Materials Processing, Kharagpur, IND, February 1-3, 2002 New Delhi : Tata McGraw-Hill Publ.Com.Ltd., 2002
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