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The use of neighbourhood intensity comparisons, morphological gradients and Fourier analysis for automated precipitate counting & Pendellösung fringe analysis in X-ray topography

Murphy, G.; Whelan, P.F.; McNally, P.J.; Tuomi, T.; Simon, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240059282
HGF-Programm 55.01.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 10. Int. Conf. on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP X), Blatz-sur-Mer, F, September 29-October 2, 2003 European Physical Journal - Applied Physics, 27(2004) DOI:10.1051/epjap:2004087
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