The use of neighbourhood intensity comparisons, morphological gradients and Fourier analysis for automated precipitate counting & Pendellösung fringe analysis in X-ray topography
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240059282 |
| HGF-Programm | 55.01.02 (POF I, LK 01) |
| Erscheinungsvermerk | 10. Int. Conf. on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP X), Blatz-sur-Mer, F, September 29-October 2, 2003 European Physical Journal - Applied Physics, 27(2004) DOI:10.1051/epjap:2004087 |