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Simulated degradation of a crystalline C-S-H phase (Xonolite), by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray diffraction (XRD) and environmental scanning electron microscopy (ESEM)

Black, L.; Garbev, K. ORCID iD icon; Stemmermann, P. ORCID iD icon; Hallam, K. R.; Allen, G. C.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Chemie - Bereich Wasser- und Geotechnologie (ITC-WGT) (ITC-WGT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240059949
HGF-Programm 11.14.05 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk 80.Jahrestagung der Deutschen Mineralogischen Gesellschaft, Hamburg, 8.-12.September 2002 : Referate der Vorträge und Poster Berichte der Deutschen Mineralogischen Gesellschaft, No.1, 2002 (Beihefte zum European Journal of Mineralogy, Vol. 14, 2002)
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