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Biaxial fatigue testing of thin films

Eve, S.; Huber, N.; Ernst, E.; Last, A.; Schlagenhof, M.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240062348
HGF-Programm 41.02.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 8th Internat.Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, Dresden, September 12-14, 2005
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