Biaxial fatigue testing of thin films

Eve, S.; Huber, N.; Ernst, E.; Last, A.; Schlagenhof, M.; Kraft, O.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2005
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240062348
HGF-Programm	41.02.03 (POF I, LK 01) Zuverlässigkeit, Werkstoffprüfung
Erscheinungsvermerk	8th Internat.Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, Dresden, September 12-14, 2005